ATPG相关论文
本文研究基于时序DRFM测度值引导的部分扫描设计比基于静态测度值引导的部分扫描方案可获得更高的性能价格比,可帮助用户基于ATPG......
本文讨论了VLSI功能测试的自动测试生成算法,并给出实用的算法模型。
This article discusses the VLSI functional test automat......
故障测试在芯片开发中是十分重要的部分,分布于开发的各个环节中。每个芯片在发布前都需要进行故障测试,以确保有缺陷的芯片不会流......
随着集成电路的复杂度不断增大以及电路模块化设计方法的盛行,集成电路在设计和生产过程中产生了大量的未知位(X)。电路中X值的传......
介绍了“龙腾”52微处理器测试结构设计方法,详细讨论了采用全扫描测试、内建自测试(BIST)等可测性设计(DFT)技术.该处理器与PC104......
介绍了一种面向新型FPGA结构—可重构算子阵列的功耗评估方法。分析了可重构算子阵列结构的功耗构成,同现有的功耗评估方法进行对......
在对设计的功能验证中,断言常被用于检测设计错误.针对制造业的测试模式生成,提出了在寄存器传输层(RTL)用于无扫描设计的断言再用......
微捷码（Magma）设计自动化公司发表了有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX。藉由整合Talus ATPG和Talus ATPGX进入Talus物......
讨论了组合电路的等价性检验方法,分析了FAN算法的关键技术。利用该算法进行了组合电路的等价性检验,实验结果表明了该方法的有效......
电路集成度和复杂度的不断增加使得电路的故障诊断越来越困难。该文在蚂蚁路径ATPG算法的基础上，引入了电路设计中的可测性分析理论......
瞬态电流测试可以检测一些用电压测试和稳态电流测试不能检测的故障。对每一个故障都进行一次测试生成所花费的时间太多,而且没有......
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对性能驱动控制逻辑进行测试生成难度较大，通常要加入可测性结构，但会影响原电路优化性能并增加生产成本。本文以重定时理论为基础、......
在对设计的功能验证中,断言常被用于检测设计错误.针对制造业的测试模式生成,提出了在寄存器传输层（RTL）用于无扫描设计的断言再用方......
临界二元树作为描述电路功能的一种方法，可以用于保滞型故障模型的电路功能级测试生成。其基于知识的树结构特别适用于专家系统环境......
介绍了“龙腾”＆微处理器测试结构设计方法，详细讨论了采用全扫描测试、内建自测试（BIST）等可测性设计（DFT）技术．该处理器与PC104全兼容，设......
布尔可满足性被深入研究井广泛应用于电子设计自动化等领域。该文提出了一种基于布尔可满足性的组合电路ATPG改进算法。在采用当前......
随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要。针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一种系统级DFT设计策略和方......
可测试性设计是现代芯片设计中的关键环节，针对无线接入芯片的可测试性设计对测试技术有更高的要求。首先概迷可测试性设计和测试向......
全速测试（at-speed ATPG）是现代电子设计中必需的一个重要环节。然而由于在做ATPG时,时序信息不完整,所以某些全速测试的向量会激活......
介绍布尔可满足性 (SAT)求解程序在测试向量自动生成、符号模型检查、组合等价性检查和RTL电路设计验证等电子设计自动化领域中的......
综述了半行自动测试生成（ＡＴＰＧ）理论的发展情况，并对发展前景提出了几点看法。文章特别强调：研究一种能把被测电路实质性划小的方法是进一步......
本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点，本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统......
芯片设计解决方案供应公司微捷码（Magma）设计自动化公司日前宣布推出了具有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX新产品。这......
提出一种新的面向应用的FPGA测试方法。该方法将FPGA设计配置（DC）抽象成由LUT、非LUT逻辑门、寄存器和互连线所组成的模型,将目标故......
本文讨论基于ＰＬＤ设计文件的ＰＬＤ自动测试程序生成技术，包括设计文件解析技术；测试向量生成长法；测试向量自动生成技术；测试程序自动生成技术；以......
可测性设计已应用在大规模集成电路设计中。本文介绍了可测性设计原理和实现技术。同时介绍了一款无线局域网（WLAN）芯片,根据该芯片......
在ASIC设计中,越来越多地采用了SoC(systems-on-a-chip)方法,同时也因为采用各种IP核和嵌入存储器,给芯片的设计和测试带来了复杂......
Digi-Key Corporation与Airpax签订全球经销协议,大唐移动3GTD-SCDMA无线网络控制器采用IDT网络搜索引擎助力中国移动通信系统,德......
集成电路的飞速发展使得测试的难度不断增加，而ATPG技术在测试向量产生方面具有重要的意义，本文对该技术的发展及其所采用的方法进行......
数字电路测试的关键在于算出测试向量。文章对数字电路的功能测试和测试生成进行研究，介绍了D算法的基本概念及在数字电路故障检测......
随着信息时代的飞速发展,集成电路已被广泛应用于民用、商用、军用等多个领域,与此同时,集成电路测试作为保证集成电路质量的重要......
功能验证用以保证集成电路RTL级或更高级设计满足功能规范,从而保证集成电路设计的功能正确性。随着信息技术的深入发展,集成电路......
在大规模集成电路芯片的可靠性分析和性能评估中，功耗估算起着重要的作用，文中提出基于ＡＴＰＧ的最大功耗估算改进算法，通过对电路充放电节点......
随着数字电路的广泛应用．电路的测试与故障诊断已成为其设计与生产过程的重要组成部分。讨论了电路的测试及故障诊断中的一些问题．主......
要使现有的模拟电路故障诊断算法适用于大规模电网络,必须将大规模网络分解成互不耦合的小规模网络。本文讨论了将支路撕裂法用于......
Mentor Graphics公司近日宣布推出新款Tessent ScanPro产品，该产品采用的技术可以显著提升使用Tessent Test Kompress ATPG压缩解决......
过大的峰值功耗会使芯片承受过大的瞬间电流冲击,降低芯片的可靠性及性能,因此有效地对电路最大功耗作出精确的估计非常重要.为了......
ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清......
液晶显示(LCD)控制器芯片是面向液晶显示器应用的高集成度图形图像显示芯片,其主要作用是为电子信息设备所使用的液晶显示器件提供......
随着集成电路技术的不断发展,数字电路的可测性设计和自动测试向量生成的研究日趋重要。论文的主要工作是在深入研究数字电路测试......
随着当前集成电路特征尺寸不断减小,在带来频率功耗等性能的提升的同时,一些严重的电路可靠性问题也逐渐显现。其中负偏置温度不稳......
目前,基于IP(Intellectual Property)复用的片上系统设计方法使得专用集成电路(ASIC,Application Specific Integrated Circuit)的......
随着云计算和物联网等技术的兴起,互联网的广度和深度的不断扩大,网络信息安全成为愈加重要的技术和社会问题。信息安全的基础是密......
随着超大规模集成电路技术进入纳米时代，电路日趋复杂，集成度日益增高，由此导致数字集成电路故障的复杂性急剧增加，为每一类故障建立故......
